監(jiān)控電路NCP303LSN16T1GNCP302和NCP303系列是第二代超低電流電壓檢測(cè)器，監(jiān)控電路NCP303LSN16T1G 其中包含一個(gè)可編程的延時(shí)發(fā)生器。這些設(shè)備是專門(mén)設(shè)計(jì)用于作為復(fù)位控制器在便攜式微處理器為基礎(chǔ)的系統(tǒng)，延長(zhǎng)電池壽命是至關(guān)重要的。每個(gè)系列的特點(diǎn)是高精度欠壓檢測(cè)器與滯后和外部可編程的延時(shí)發(fā)生器。這種功能組合可以防止不穩(wěn)定的系統(tǒng)復(fù)位操作。監(jiān)控電路NCP303LSN16T1G 系列由互補(bǔ)的輸出設(shè)備組成，可以使用有源高復(fù)位或有源低復(fù)位。NCP303系列具有一個(gè)開(kāi)放的排水N -通道輸出和一個(gè)積極的低復(fù)位輸出。Features ? Quiescent Current 0.5 A Typical ? High Accuracy Undervoltage Threshold 2.0%_? Externally Programmable Time Delay Generator ? Wide Operating Voltage Range 0.8 V 10 V ? Complementary 或 Open Drain Output ? Active Low 或 Active High Reset ? Specified Over 的 ?40°C +125°C Temperature Range (Except 為 Voltage Options 從 0.9 到 1.1 V) ? NCV Prefix Automotive 和 Other Applications Requiring Unique Site 和 Control Change Requirements;AEC?Q100合格，PPAP能力強(qiáng)?這些設(shè)備不含鉛，符合RoHS標(biāo)準(zhǔn)的典型應(yīng)用程序?微處理器復(fù)位控制器?低電池檢測(cè)?電源故障指示器?電池備份檢測(cè)

監(jiān)控電路NCP303LSN16T1G 系列設(shè)備由一個(gè)驅(qū)動(dòng)延時(shí)發(fā)生器的精密電壓檢測(cè)器組成。圖37和38顯示了一個(gè)時(shí)序圖和一個(gè)典型的應(yīng)用程序。首先考慮輸入電壓Vin處于標(biāo)稱電平，且大于電壓檢測(cè)器上閾值(VDET+)。引腳5和電容CD處的電壓將與Vin處于同一電平，復(fù)位輸出(引腳1)對(duì)于有源低器件將處于高電平，對(duì)于有源高器件將處于低電平。如果出現(xiàn)電源中斷，且Vin明顯不足，則會(huì)低于較低的檢測(cè)器閾值(VDET?)，外部延時(shí)電容CD將立即被連接到Pin 5的內(nèi)部N?通道MOSFET釋放。此事件序列導(dǎo)致復(fù)位輸出處于活動(dòng)低設(shè)備的低狀態(tài)，或活動(dòng)高設(shè)備的高狀態(tài)。斷電完成后，

Vin將再次回到它的名義水平，并變得比VDET+更大。電壓檢測(cè)器將關(guān)閉N通道MOSFET，并允許上拉電阻RD對(duì)外部電容CD充電，從而為釋放復(fù)位信號(hào)創(chuàng)建可編程延遲。當(dāng)引腳5處的電壓超過(guò)逆變器/緩沖器閾值(通常為0.675 Vin)時(shí)，復(fù)位輸出將恢復(fù)到原來(lái)的狀態(tài)。復(fù)位輸出延時(shí)與電容的關(guān)系如圖30 - 32所示。電壓檢測(cè)器和逆變器/緩沖器內(nèi)置滯后，以防止不穩(wěn)定的復(fù)位操作。雖然這些設(shè)備系列是專門(mén)為使用在便攜式微處理器為基礎(chǔ)的系統(tǒng)復(fù)位控制器，他們提供了一個(gè)成本效益的解決方案，在許多應(yīng)用中，需要精確的電壓監(jiān)測(cè)和時(shí)間延遲。